焦平面陣列，英文簡(jiǎn)稱FPA，是焦平面陣列探測(cè)器成像系統(tǒng)。焦平面陣列（FPA）探測(cè)器，簡(jiǎn)稱焦平面探測(cè)器，接收光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)進(jìn)行成像，在光學(xué)領(lǐng)域，常用的是紅外焦平面陣列（IFPA）探測(cè)器，探測(cè)紅外光進(jìn)行成像，簡(jiǎn)稱紅外焦平面探測(cè)器。
　　焦平面陣列由多個(gè)敏感單元組成，每個(gè)單元對(duì)應(yīng)一個(gè)像素，焦平面陣列探測(cè)器一般采用半導(dǎo)體材料來(lái)接收光信號(hào)，光線照射半導(dǎo)體，二者相互作用產(chǎn)生電子-空穴對(duì)，分離帶電粒子形成電信號(hào)并進(jìn)行放大，通過(guò)對(duì)每個(gè)單元產(chǎn)生的電信號(hào)進(jìn)行讀取，可實(shí)現(xiàn)圖像重建。
　　傳統(tǒng)的光機(jī)掃描成像系統(tǒng)帶寬要求高、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、可靠性有限，為避免這些缺點(diǎn)，由多個(gè)敏感單元組成的焦平面陣列探測(cè)器受到關(guān)注，且靈敏度、信噪比、圖像分辨率得到大幅提高。
　　按照是否需要冷卻系統(tǒng)來(lái)劃分，焦平面陣列探測(cè)器可以分為制冷焦平面陣列探測(cè)器、非制冷焦平面陣列探測(cè)器兩大類。制冷焦平面陣列探測(cè)器具有靈敏度高、探測(cè)精度高、圖像分辨率高、噪聲低等優(yōu)點(diǎn)，但結(jié)構(gòu)復(fù)雜、需要冷卻系統(tǒng)、成本高；非制冷焦平面陣列探測(cè)器具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、反應(yīng)速度快、功耗低、成本低、可工作在室溫條件下等優(yōu)點(diǎn)，但探測(cè)精度、圖像分辨率低于前者。
　　除了接收紅外輻射的紅外焦平面陣列探測(cè)器外，還有應(yīng)用在光譜學(xué)領(lǐng)域的、可以接收不同波長(zhǎng)光信號(hào)的焦平面陣列探測(cè)器，其探測(cè)光譜范圍包括可見(jiàn)光、紅外光、紫外光以及X射線，能夠通過(guò)對(duì)光強(qiáng)度變化進(jìn)行探測(cè)來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品分子結(jié)構(gòu)、光譜特性分析。
　　焦平面陣列探測(cè)器可以廣泛應(yīng)用在照相機(jī)、攝像機(jī)、醫(yī)學(xué)成像、無(wú)人駕駛、檢驗(yàn)檢測(cè)、安防監(jiān)控、能源勘探、航天、軍事等領(lǐng)域。非制冷焦平面陣列探測(cè)器主要用于民用領(lǐng)域，光譜范圍更寬，以可見(jiàn)光為主，而制冷焦平面陣列探測(cè)器主要用于軍事領(lǐng)域，一般采用紅外焦平面陣列探測(cè)器。
　　應(yīng)用在軍事領(lǐng)域的制冷紅外焦平面陣列探測(cè)器，采用的半導(dǎo)體材料主要包括銻化銦（InSb）、碲鎘汞（HgCdTe）、二類超晶格（T2SL）、量子阱（QW）、量子點(diǎn)（QD）等，響應(yīng)波段在紅外光范圍內(nèi)可調(diào)諧，憑借穿透性強(qiáng)、無(wú)需額外照明特點(diǎn)，能夠探測(cè)微小目標(biāo)，跟蹤獲取導(dǎo)彈、飛機(jī)、無(wú)人機(jī)等裝備信息。
   焦平面陣列探測(cè)器技術(shù)壁壘高，全球生產(chǎn)企業(yè)數(shù)量少，代表性企業(yè)主要有美國(guó)菲力爾（FLIR）、美國(guó)DRS、英國(guó)BAE、法國(guó)ULIS、以色列SCD等。